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Uma introdução detalhada aos conceitos fundamentais de semicondutores e da junção pn, abordando tópicos como a teoria do gás eletrônico, a condução de corrente elétrica por lacunas, a taxa de recombinação de elétrons e lacunas, a difusão e deriva de portadores, a dopagem de cristais de silício, o equilíbrio e a tensão de barreira na junção pn em circuito aberto, bem como o comportamento da junção pn sob polarização reversa e direta. O documento fornece uma compreensão abrangente dos princípios básicos que regem o funcionamento dos dispositivos eletrônicos semicondutores, sendo uma leitura essencial para estudantes de engenharia elétrica e áreas afins.
Tipologia: Notas de aula
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Universidade de BrasíliaFaculdade de TecnologiaDepartamento de Engenharia Elétrica
Dispositivos e Circuitos Eletrônicos
Os metais
Teoria do Gás Eletrônico:
em um metal os elétrons estão em
movimento contínuo, sendo sua direção mudada após cada colisãocom os íons pesados. A distancia média entre colisões é chamada de livre caminho médio.
O Silício Intrínseco
-^
“Um cristal de silício puro ou intrínseco tem uma estrutura comorganização atômica regular em que os átomos são mantidos emsuas posições por ligações chamadas de ligações covalentes”Sedra/Smith
O Silício Intrínseco
-^
Taxa de Recombinação de Elétrons/Lacunas:
a taxa de recombinação
é proporcional ao número de elétrons livres e de lacunas, que por suavez é determinado pela taxa de ionização;
-^
A Taxa de Ionização
: função muito dependente da temperatura;
-^
No Equilíbrio Térmico?
a taxa de recombinação é igual à de ionização,
sendo a concentração de elétrons livres n, igual a de lacunas p.
-^
Da Física dos Semicondutores, considerando uma temperatura absoluta T^ B - é um parâmetro dependente do material =E
G^
Mobilidade dos portadores em
semicondutores
-^
Difusão e Deriva
: mecanismos pelos quais as lacunas e os elétrons
se movem através de um cristal de silício (Difusão e Deriva).
-^
A Difusão:
Esta associada ao movimento aleatório devido a agitação
térmica, sendo seu valor proporcional à inclinação da curva deconcentração, ou ao gradiente da concentração, naquele ponto
Densidade de Corrente de Lacunas e Elétrons [A/cm Constante de Difusão
2 ]
Mobilidade dos portadores em
semicondutores
-^
-^
-^
-^
Semicondutor Dopado
-^
Impureza pentavalente (ex. fósforo)
Impureza tretavalente (ex. boro)
Semicondutor Dopado
-^
D^
no
-^
p = ND
n, como NA
=0 e n>>p, temos n~=NA
D
SIMILAR PARA ELÉTRONS!!!
A Junção pn em Circuito Aberto
-^
Corrente de Difusão I
:D pelo fato da concentração de lacunas ser alta
na região
p
e baixa na região
n
, as lacunas se difundem através da
junção do lado
p
para o lado
n
. De modo similar, os elétrons se
difundem através da junção do lado
n
para o lado
p.
-^
Região de Depleção:
lacunas se difundem na região
n
e desaparecem
(se recombinam), elétrons se difundem na região
p
e desaparecem (se
recombinam). Assim, ocorrerá a formação de uma região de cargasdescobertas próxima a junção é o surgimento de um Campo Elétrico
E
que se opõe à difusão de lacunas na região
n
e elétrons na região
p
.
A Junção pn em Circuito Aberto
-^
Equilíbrio e Tensão da Barreira:
se I
ID
, mais cargas fixas estarãoS
descobertas de ambos os lados da junção, a camada de depleção setornará mais larga e o valor de tensão sobre ela aumentará. Isso, porsua vez, fará com que I
D^
diminua até que seja atingido o equilíbrio com
ID
=I
.por outro lado. Se IS
IS
, então a quantidade de carga fixas emD
descoberto diminuirá, a camada de depleção se tornará mais estreita ea tensão nela diminuirá. Isso faz com que I
D^
aumente até que o
equilíbrio I
=ID
S^
seja atingido.
A Junção pn em Circuito Aberto
-^
A tensão Interna:
Sem a aplicação de uma tensão externa, a tensão
Vo da junção pn pode se deduzida como sendo dada por:
-^
Obs.: quando os terminais da junção são deixados em aberto,a tensãomedida entre eles e zero. Ou seja, a tensão Vo da junção não aparecenos terminais do diodo. Isso se deve à tensões de contato metal-semicondutor que possuem valores contrários.
Lei da Conservação da
energia!!!!
A Junção pn na polarização Reversa
-^
A fonte de corrente I no sentido reverso e com I<IS:
pelo circuito
externo, elétrons deixam o material
n
e lacunas deixam o material
p
.
-^
Resultado:
aumento das cargas fixas positivas descobertas em
n
e das
cargas fixas negativas descobertas em
p
, e conseqüente aumento da
região de depleção, na tensão
Vo
e diminuição da corrente de difusão
ID
. Como I
S^
não depende da tensão Vo (ionização térmica), temos no
equilíbrio:
A Junção pn na ruptura
-^
A fonte de corrente I no sentido reverso e com I>IS:
dois
mecanismos possíveis de ruptura são possíveis, o efeito zener e oefeito avalanche. Esses efeitos são provocados pelo aumento dacamada de depleção e conseqüente elevação do campo elétrico.
-^
Ruptura Zener:
o campo elétrico na camada de depleção aumenta até
o ponto capaz de quebrar uma ligação covalente e gerar um par eletron-lkacuna. Os elétrons gerados serão acelerados pelo campo elétricopara o lado n e as lacunas para o lado p, constituindo um correntereversa que sustenta I.
-^
Ruptura Avalanche:
os portadores de minoritários que cruzam a região
de depleção sob a influencia do campo elétrico ganham energia cinéticasuficiente para quebrar as ligações covalentes dos átomos que elescolidem, gerando um efeito avalanche onde a tensão permanece quaseconstante e a corrente reversa sustenta I.